반도체 후공정 테스트 (평가분석파트) 기초
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개설대학
성균관대학교
신청기간
2025-08-26 ~ 2026-08-26
수강기간
상시수강가능
총 학습시간
25:25 (총 3차시)
신청 강의명 : 반도체 후공정 테스트 (평가분석파트) 기초
강좌소개
강의 목록
강좌소개

인트로화면1

  

강의 목록
1차
  • 9월 15일 출석
  • 9월 16일 출석
  • 학습 전 사전 설문조사
  • 강의 자료12
  • 메모리에 대한 이해 1(반도체란 무엇인가?)
  • 메모리에 대한 이해 1(메모리 반도체 종류 및 특징)
  • 메모리에 대한 이해 1(DRAM 동작 원리)
  • 9월17일 출석
  • 대화방
  • 토론
  • 테스트
  • ㅊㅊ
2차
  • 반도체 후공정 Test에 대한 이해1
  • 반도체 후공정 Test에 대한 이해2
  • 후공정 테스트 및 평가분석 기초 과제
  • 기초 테스트 퀴즈
3차